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              應用電子芯片高低溫測試的芯片本質說明

              電子芯片高低溫測試是用于芯片行業中的,芯片測試對于芯片的質量有著很大的作用,那么,應用于電子芯片高低溫測試中的芯片,大家又了解多少呢?

              一般來說,芯片公司的每日流水的芯片就有幾萬片,測試的壓力是非常大。當芯片被晶圓廠制作出來后,就會進入測試的階段。這個階段的測試可能在晶圓廠內進行,也可能送往附近的測試廠商代理執行。生產工程師會使用自動測試儀器(ATE)運行芯片設計方給出的程序,粗暴的把芯片分成好的/壞的這兩部分,壞的會直接被舍棄,如果這個階段壞片過多,基本會認為是晶圓廠自身的良品率低下。如果良品率低到某一個數值之下,晶圓廠需要賠錢。

              通過了測試后,晶圓會被切割。切割后的芯片按照之前的結果分類。只有好的芯片會被送去封裝廠封裝。封裝的地點一般就在晶圓廠附近,這是因為未封裝的芯片無法長距離運輸。封裝之后,芯片會被送往各大公司的測試工廠,也叫生產工廠。并且進行Final Test。生產工廠內實際上有十幾個流程,Final Test只是第一步。在Final Test后,還需要分類,刻字,檢查封裝,包裝等步驟。然后就可以出貨到市場。

              Final Test是工廠的重點,需要大量的機械和自動化設備。它的目的是把芯片嚴格分類。以Intel的處理器來舉例,在Final Test中可能出現這些現象:雖然通過了Wafer Test,但是芯片仍然是壞的、封裝損壞、芯片部分損壞。比如CPU有2個核心損壞,或者GPU損壞,或者顯示接口損壞等、芯片是好的,沒有故障。

              無錫冠亞電子芯片高低溫測試廣泛運用于半導體芯片設備高低溫測試,電子設備高溫低溫恒溫測試冷熱源,獨立的制冷循環風機組;可連續長時間工作,自動除霜,除霜過程不影響庫溫;模塊化設計,備用機替換容易(如果有10臺機子,只要一臺備用機組即可);解決頻繁開關門,蒸發系統結霜問題;蒸發系統除霜過程不影響。構筑一套高低溫恒溫室變的簡單(根據提供的圖紙,像搭積木一般拼接好箱體,連接好電和水,設定好溫度即可工作)。

              每個芯片工廠出品的芯片都是需要很大的成本以及人力的,那么,芯片的測試工作尤為重要,電子芯片高低溫測試的選擇就需要芯片廠家慎重選擇。(本文內容來源知乎,如有侵權,請聯系刪除,謝謝。)

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