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              芯片測試低溫控制原理說明

              芯片測試低溫控制是無錫冠亞利用制冷加熱動態控溫系統為基礎,不斷針對半導體芯片測試行業推廣的新型溫控系統,那么,對于芯片測試低溫控制大家都了解多少呢?

              芯片測試低溫控制


              芯片測試低溫控制系統直接使用被測芯片的體二極管作為對測試插槽溫度檢測的溫度傳感器,選用此方法的優點在于不用引入額外的溫度傳感器及相應的控制電路,從而減少了由于引入本系統而導致的測試板成本的增加。根據體二極管的電壓溫度曲線特性,對不同芯片體二極管建立電壓/溫度線性回歸模型,確定線性回歸參數

              芯片測試低溫控制中,β0和β1為線性回歸模型參數。確定此參數需對多個芯片進行溫度/電壓采樣,利用線性回歸分析,通過對多個芯片體二極管電壓和對應測試插槽溫度進行采樣,通過線性回歸分析。

              芯片測試低溫控制將溫度監測補償程序直接嵌入進芯片測試程序,保證與芯片測試程序兼容性,且容易進行移植,不會另外增加應用程序接口的開發成本。芯片測試低溫控制測試程序實時監測被測芯片體二極管電壓值,將電壓值轉換為溫度值,通過判斷溫度值是否超出溫度上限來決定是否開啟閉環比例積分微分控制程序來控制測試機系統資源驅動半導體制冷片來進行溫度補償。

              芯片測試低溫控制本系統在在制冷的測試大環境下引入半導體制冷器件作為局部輔助制冷補償設備,通過直接使用測試機現有硬件資源控制半導體制冷片;直接使用芯片體二極管電壓/溫度特性,實時監測測試芯片的溫度變化;直接使用測試程序現有開發環境嵌入相應的比例積分微分溫度控制程序,建立混合制冷模式。在保證低溫測試精度的同時,降低了現有測試板硬件電路改動,節省了硬件成本,同時也降低了軟件開發難度,增加了軟件可移植性。實現制冷所不能即時實現的溫度微調功能,將測試溫度控制在目標溫度附近,從而實現高精度的恒溫控制,保證芯片測試的良品率。

              芯片測試低溫控制的運行原理以及相關說明如上所示,希望能夠幫到各位用戶對芯片測試低溫控制設備了解清楚。

              (注:本來部分內容來自行知部落平臺相關論文,如果侵權請及時聯系我們進行刪除,謝謝。)

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