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              無錫冠亞恒溫制冷技術有限公司
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              射頻芯片高低溫自動測試機控制系統說明

              基于半導體芯片行業的不斷發展,無錫冠亞射頻芯片高低溫自動測試機也推廣向消費者,那么,對于射頻芯片高低溫自動測試機系統大家有什么了解呢?

              芯片測試低溫控制


              射頻芯片高低溫自動測試機作為冷源,在技術應用上結構簡單,整個射頻芯片高低溫自動測試機由熱點堆和導線組成,噪聲少,磨損少,壽命長,可靠性高,制冷溫度和冷卻速度可以通過工作電流來控制,控制靈活,啟動快。

              由于溫度控制電路要求驅動TEC的電流是雙向的,我們選擇應用TEC的開關式H橋功率驅動電路,則流經TEC的電流方向從右向左。當半導體激光器的工作溫度低于設定的溫度點時,H橋按TEC制熱的方向以一定的幅值輸出電流;當半導體激光器的工作溫度高于設定的溫度點時,H橋會減少TEC的電流甚至反轉TEC的電流方向來降低半導體激光器的溫度。當控制環路達到平衡時,TEC電流的方向和幅值就調整好了,此時半導體激光器的工作溫度等于設定的溫度。

              射頻芯片高低溫自動測試機電路在接收到控制信號以后,控制TEC的工作時間,通過控制TEC的工作電流的大小來控制它的功率,從而控制它對激光器的制冷效果,保證激光器工作在穩定狀態。在系統設計實現時,因為熱敏電阻和制冷器已經和激光器固定在模塊中,模塊給出了相應的管腳。

              射頻芯片高低溫自動測試機整流輸出部分采用的總體方案是PWM脈寬調制,利用脈寬調制技術控制開關電路導通時間,從而改變系統控制部分的平均電流,改變半導體制冷器的功率,實現溫度控制,PWM脈寬調制器利用AT89C2051實現。將溫度探測電路送來的信號送入PWM脈寬調制器,經過和預先設定好的溫度值進行比較、運算,調整輸出脈寬,加到一個開關器件上,通過控制其導通時間、輸出平均電壓,從而改變電流。

              射頻芯片高低溫自動測試機PID控制中,kp、TI和TD這3個參數的確定對實現高精度控制至關重要,在溫度控制過程中,由于NTC和TEC等器件具有熱慣性,在半導體激光器的溫度控制過程中,可以將溫度控制部分作為一階慣性加純延遲環節建立數學模型。

              射頻芯片高低溫自動測試機溫度控制方案,保持溫度在-45℃到250℃,控制進出口溫度,更有效的測試半導體芯片效果。

              (注:本來部分內容來百度學術相關論文,如果侵權請及時聯系我們進行刪除,謝謝。)

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